Rôzne typy elektrónových mikroskopov

elektrónová mikroskopia využíva zaostrený lúč elektrónov vytvoriť obrázky s vysokým rozlíšením cieľového vzorky. Vzhľadom k tomu, Mikroskop je obmedzené ich zväčšenie vlnovou dĺžkou fotónov, sú elektrónové mikroskopy obmedzené na oveľa menšie vlnovou dĺžkou elektrónov, čím sa dosiahne zväčšenie až na takmer 0,05 nanometrov. Existujú štyri hlavné typy elektrónových mikroskopov, z ktorých všetky môžu byť zhruba vymedzený podľa typu odrazenej energie sa nahrávať zo vzorky. História

Prvý elektrónový mikroskop, transmisný elektrónový mikroskop, bol postavený podľa nemeckých inžinierov Knoll a Ernst Ruska Max v roku 1931. Hoci pôvodný prototyp dosiahol nižší zväčšenia, než je súčasných svetelných mikroskopov, Knoll a Ruska preukázala dizajn bol možný ao dva roky neskôr prekonal svetelného mikroskopu v teleobjektív. Všetky ďalšie iterácií elektrónového mikroskopu sú na základe tohto pôvodného prototypu.
Transmisný elektrónový mikroskop (TEM)

transmisný elektrónové mikroskopy vytváranie obrazov záznamom elektrónového lúča po ňom prešla tenký plátok vzorky. Vzorka je umiestnený na mriežke medených drôtov a vystaví sa pôsobeniu elektrónového lúča, spravidla generované bežiacom vysokého napätia cez volfrámového vlákna. Elektrónový lúč prechádza kondenzátora objektívu, udrie vzorky a pokračuje cez objektívne a projektívne šošoviek pred zhromaždené na obrazovke fosforu. Rovnako ako u všetkých foriem elektrónovej mikroskopie, musí cieľový vzorka k dehydratácii a izolovaný vo vákuu, aby sa zabránilo kontaminácii vodnej pary, ktoré môžu spôsobiť nežiadúce rozptylu elektrónov. Témy produkujú najväčšie zväčšenie zo všetkých elektrónových mikroskopov.
Skenovacieho elektrónového mikroskopu (SEM)

skenovacie elektrónové mikroskopy, spolu s mikroskopy prenosu elektrónov, sú najviac široko používaný. Na rozdiel od témy, snímacie elektrónové mikroskopy vytváranie obrazov zberom druhotných alebo inelastically rozptýlené elektróny, ktoré sa odrážajú od povrchu vzorky. Primárne elektrónový lúč prechádza niekoľkými kondenzátorových šošoviek, snímanie cievky a šošoviek objektívu pred náraze na povrch vzorky. Elektrónový lúč je rozptýlený po náraze na vzorku a detektor sekundárnych elektrónov zhromažďuje rozptýlené elektróny. Elektrón údaje sa potom raster skontrolovaný produkovať snímky povrchu sa značnou hĺbkou ostrosti.
Reflection elektrónový mikroskop (REM)

mikroskopy Reflection elektrón pôsobí veľmi podobný SEM , pokiaľ ide o štruktúru. REMS, však, zbierať odrazených alebo pružne odrazených elektrónov po primárnej elektrónový lúč dopadá na povrch vzorky. Mikroskopy odraz elektrónov sú najviac obyčajne spojený s spin-polarizované nízkoenergetické elektrónovej mikroskopie na obrázok magnetické domény podpis vzory povrchov v stavebníctve počítačovým obvodom.
Skenovanie transmisný elektrónový mikroskop (STEM)

Skenovanie transmisný elektrónové mikroskopy, ako tradičné témy, prejsť elektrónový lúč cez tenký plátok vzorky. Namiesto sústredenia sa elektrónový lúč po prechode vzorkou, STEM sústreďuje lúč dopredu a vytvára obraz pomocou skenovania rastrových. Skenovanie transmisný elektrónové mikroskopy sú vhodné pre analytické metódy mapovania, ako sú elektrónové spektroskopia energetické straty a prstencovou tmavom poli mikroskopie.